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机译:在交流电场下通过电源电流测试来检测CMOS开路缺陷的测试图生成
Faculty of Engineering, University of Tokushima, Tokushima-shi, 770-8506 Japan;
open defects; supply current test; CMOS circuits; electric field;
机译:使用交流电源叠加直流电源的电源电流测试来检测CMOS浮栅缺陷
机译:在时变电场下通过电源电流测量进行CMOS开路缺陷检测
机译:动态电源电流测试,用于CMOS SRAM中的开路缺陷
机译:交流电场下基于电源电流的CMOS引线开路检测测试设备
机译:使用传统的基于故障卡住的自动测试模式生成工具来最大化非目标缺陷检测。
机译:修改常规视野测试模式以改善对10°中部青光眼早期缺陷的检测
机译:使用I / sub DDQ /测试的CMOS浮栅缺陷检测,直流电源叠加交流分量
机译:通过交流阻抗和介电弛豫光谱检测桥梁结构上的水和冰,第三和第四阶段:在桥面上进行新型水冰传感器系统的现场测试和改进。最终报告2010年7月1日至8月31日,2