机译:基于故障特征表征的模拟电路测试方案和IEEE 1149.4标准的扩展
Department of Electronic and Photonic System Engineering, Kochi University of Technology, Kami-shi, Kochi, 782-8502 Japan;
Department of Electronic and Photonic System Engineering, Kochi University of Technology, Kami-shi, Kochi, 782-8502 Japan;
analog circuit testing; circuit-under-test; IEEE 1149.4 standard; fault signature characterization;
机译:基于故障特征表征的模拟电路测试方案和IEEE 1149.4标准的扩展
机译:创新的内置自检方案,用于片上诊断,符合IEEE 1149.4混合信号测试总线标准
机译:使用IEEE 1149.1和1149.4实施模拟测试
机译:使用故障签名表征技术的符合IEEE 1149.4标准的片上模拟混合信号测试
机译:基于签名的模拟和RF电路测试。
机译:基于极限学习机的模拟电路故障检测测试生成算法
机译:基于故障签名表征的模拟电路测试方案和IEEE 1149.4标准的扩展
机译:非线性模拟电路的故障诊断。第四卷。模拟故障字典的隔离算法。