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A Fault Signature Characterization Based Analog Circuit Testing Scheme and the Extension of IEEE 1149.4 Standard

机译：基于故障签名表征的模拟电路测试方案和IEEE 1149.4标准的扩展

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Wimol SAN-UM; Masayoshi TACHIBANA;
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年度 2010
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1. A Fault Signature Characterization Based Analog Circuit Testing Scheme and the Extension of IEEE 1149.4 Standard [J] . Wimol SAN-UM, Masayoshi TACHIBANA IEICE transactions on information and systems . 2010,第1期

机译：基于故障特征表征的模拟电路测试方案和IEEE 1149.4标准的扩展
2. A Fault Signature Characterization Based Analog Circuit Testing Scheme and the Extension of IEEE 1149.4 Standard [J] . Wimol SAN-UM, Masayoshi TACHIBANA IEICE Transactions on Information and Systems . 2010,第1期

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3. Innovative built-in self-test schemes for on-chip diagnosis, compliant with the IEEE 1149.4 mixed-signal test bus standard [J] . Gladys Omayra Ducoudray-Acevedo, Jamie Ramirez-Angulo Journal of Electronic Testing: Theory and Applications: Theory and Applications . 2003,第1期

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4. An on-chip analog mixed-signal testing compliant with IEEE 1149.4 standard using fault signature characterization technique [C] . San-Um W., Tachibana M. International Conference on Electrical Engineering/Electronics, Computer, Telecommunications and Information Technology;ECTI-CON 2009 . 2009

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