机译:广义前馈移位寄存器及其在安全扫描设计中的应用
Graduate School of Engineering and Resource Science, Akita University, Akita-shi, 010-8502 Japan;
Graduate School of Engineering and Resource Science, Akita University, Akita-shi, 010-8502 Japan;
design-for-testability; scan design; shift register equivalents; shift register quasi-equivalents; generalized feed-forward shift registers; se-curity; scan-based side-channel attack;
机译:广义前馈移位寄存器及其在安全扫描设计中的应用
机译:使用广义前馈移位寄存器的高度安全的扫描设计
机译:使用通用移位寄存器的安全扫描设计实现SR等效
机译:使用移位寄存器等效物进行安全扫描设计,以防止差分行为攻击
机译:前馈和前馈XOR PUF的抗攻击性和可靠性分析
机译:各种距离变速器对质子铅笔梁扫描放射疗法的应用
机译:安全可测试的扫描设计利用换档寄存器准等同物
机译:设计模块化:移位寄存器在二次状态分配中的应用