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机译:基于相邻线路影响引起的故障激励的基于SAT的开放故障测试生成
Institute of Technology and Science, The University of Tokushima, Tokushima-shi, 770-8506 Japan;
Institute of Technology and Science, The University of Tokushima, Tokushima-shi, 770-8506 Japan;
Institute of Technology and Science, The University of Tokushima, Tokushima-shi, 770-8506 Japan;
Osaka Gakuin University, Suita-shi, 564-8511 Japan;
open faults; adjacent lines; test pattern generation; coupling capacitance; SAT-based ATPG;
机译:基于SAT的过渡时延故障压缩偏斜载荷测试生成
机译:基于SAT的ATPG超越了固定故障测试:对容错的应用
机译:捕获启动测试环境下时钟线上延迟故障的测试生成
机译:考虑相邻线路的打开故障测试生成和诊断测试生成
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:温度效应分析
机译:基于VHDL故障仿真可行性的故障仿真,故障分级和测试模式生成技术综述。