机译:常规手动布局和不规则布局布线路径的内部延迟变化对电源电压的依赖性
The University of Tokyo, Tokyo, 153-8505 Japan;
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within-die delay variation; design methodology; low voltage;
机译:Ga / sub 0.47 / In / sub 0.53 / As / Al / sub x / In / sub 1-x / As功率HEMT击穿电压对肖特基层设计和器件布局的依赖性研究
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机译:编译器驱动的数据布局优化,用于常规/不规则阵列访问模式
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机译:考虑信号和电源完整性问题的可感知布局的延迟故障测试技术。
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