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時間分解SHGイメージングによるペンタセンFETへの両極性注入の評価

机译:通过时间分辨SHG成像评估双极注入并五苯FET

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摘要

一般に有機物を用いたデバイスでは材料をドープせずに用いることが多く、デバイス中のキャリア密度は非動作時においては低いと考えられる。このため、デバイス動作にあたっては、キャリア注入が重要なプロセスとなり、注入にキャリア種を制御することも可能となる。実際に同一の有機材料を半導体層に用いた場合でも、適切な電極を選択することで両極性動作が可能となる例が報告されている。しかし、有機半導体材料では、p型を示すデバイスが大半で、移動度等の特性もp型動作時のほうが良好である。絶縁体表面への電子トラップがn型動作における特性低下の主要因とされるが、両極性動作(特にn型動作)についての研究はまだ始まったばかりであり、さまざまな議論がなされている。そこで、我々はこれまで、有機トランジスタ(OFET)の新規評価法として光第2次高調波発生法(SHG)を提案し、有機FETにおけるチャネル形成や、顕微分光による素子中の電界分布計測について検討してきた。また、新規SHG測定に時間分解分光計測と高感度冷却CCDによるイメージングを組み合わせることで、キャリアがFET素子中を流れる様子を画像化して捉えることにも成功した。これは、注入されたキャリアのデバイス中での振る舞いを詳細に検討する上で非常に有効な手法であると考えている。今回、金電極からペンタセン薄膜への両極性注入に着目し、電子・ホールそれぞれのキャリアについて注入の様子および注入後のキャリアの振る舞いを検討したので報告する。%Ambipolar carrier injection from gold electrode into pentacene was investigated by the time-resolved optical second harmonic generation (TRM-SHG) imaging. For organic electronic devices such as organic field effect transistors, injected carriers dominates the device operation, and thus ambipolar behavior in OFETs was observed by using appropriate electrode metals, i.e. electrons and holes are selectively injected from electrode with small and large work function, respectively. Smoothly hole injection is verified by rapid decrease of the SHG intensity at electrode edge, indicating the absence of injection barrier. In contrast, TRM-SHG results clearly indicated the presence of electron injection from the high-work function metal into electrode. However after injection, motion of the emission band of the SHG stopped in the channel indicating that electrons were trapped in the channel and could not contribute to the conduction.
机译:通常,使用有机材料的器件通常不掺杂材料而被使用,并且当该器件不工作时,该器件中的载流子密度被认为是低的。因此,在设备操作中,载流子注入是重要的过程,并且有可能控制用于注入的载流子种类。据报道,即使实际上将相同的有机材料用于半导体层,也可以通过选择适当的电极来进行双极操作。然而,大多数有机半导体材料表现出p型,并且在p型操作期间诸如迁移率的特性也更好。绝缘体表面上的电子陷阱被认为是导致n型操作性能下降的主要原因,但是对双极型操作(尤其是n型操作)的研究仍处于起步阶段,并且进行了各种讨论。因此,我们提出了一种光学二次谐波产生方法(SHG)作为有机晶体管(OFET)的一种新的评估方法,并研究了有机FET中的沟道形成和通过显微光谱法测量元件中的电场分布。我去过此外,通过将新的SHG测量与时间分辨光谱以及高灵敏度冷却的CCD成像相结合,我们已经成功地可视化了FET器件中载流子的流动方式。我们相信,这是一种详细研究设备中注入的载流子行为的非常有效的方法。在本文中,我们着重于从金电极到并五苯薄膜的双极注入,并研究了注入行为以及注入后每个电子和空穴载流子的载流子行为。通过时间分辨光学二次谐波(TRM-SHG)成像研究了从金电极向并五苯注入的双极载流子百分比,对于有机电子器件(例如有机场效应晶体管),注入的载流子支配器件工作,因此在双极行为中通过使用合适的电极金属观察到OFET,即分别从具有小和大功函数的电极中选择性地注入电子和空穴。通过电极边缘SHG强度的快速降低验证了空穴注入的平稳性,表明没有注入势垒。相比之下,TRM-SHG结果清楚地表明存在从高功函数金属向电极中注入电子的现象,但是注入后,SHG的发射带运动在通道中停止,表明电子被捕获在通道中并可能无助于传导。

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