故障活性化率向上のための可変n回テスト生成法とその品質評価に関する研究

摘要

N-deteciton test generation is known as one of the generation method of high-quality test set. However, many tests which hardly contribute to improve test quality may be contained in a test set generated base on conventional definitions of n-detection. A fault sensitization coverage oriented n-detection test generation (FSOD) was proposed as a test generation method that address this problem. However, it is difficult to improve fault sensitization coverage on the number of n detection times for each fault even if test patterns are generated by FSOD. In this paper, we propose a variable n-detection test generation method to further improve fault sensitization coverage and evaluate the test quality using statistical delay quality level. In the proposed method, the number of detection times for each fault is made variable. The experimental results using ISCAS89 benchmark circuits show that when fault sensitization coverage is increasing, statistical delay quality level is also increasing.%高品質なテストパターンの生成法の1つとして，n回検出テスト生成法が知られている．しかしながら，n回検出テスト集合の定義にしたがってテスト生成を行った場合，テスト品質の向上に寄与しないテストが多数生成されることがある．この問題を解決したテスト生成法として，故障活性化率指向n回検出テストがある．しかしながら，故障活性化率指向n回検申テスト生成を用いても，すべての故障をn回検出するなかで，故障箇所からの経路数が多い湯合に故障活性化率は向上しない．本論文では，さらに故障活性化率の向上を目的とし故障ごとにnの回数を変える可変n回検出テスト生成を提案し，そのテスト品質を統計的遅延品質レベルで評価する．ISCAS'89ベンチマーク回路による計算機実験により，故障活性化率の向上が統計的遅延品質レベルの向上につながることを示す．