セキュリティ対策，著作権保護の観点などから，現在様々なデジタル製品には暗号LSIが搭載されている．暗号LSIを含む現在のほとんどのLSIには，テストのためにスキャンパスが挿入されている．しかしながら，スキャンパスを用いることにより暗号LSI上で扱われる秘密情報を特定される危険性がある．本稿では，スキャンパスの構成を変えることによるテスタビリティとセキュリティのトレードオフの関係を明らかにする．このために，DESを実装した暗号LSIに部分的にスキャンパスを挿入し，テスタビリティとセキュリティの評価を行う．さらに，テスタビリティとセキュリティのトレードオフの関係を考慮した防御法を提案し，提案した防御法の評価を行う．提案した防御法では，スキャンパス攻撃を防ぎつつ，約98％の高い故障検出効率を得ることができる．%Recently, an encryption LSI is embedded in a variety of digital products for security and copyright protection. Most LSI including encryption LSI has a scan path for a test. However, there is a risk that the secret information is leaked from a scan path. In this paper, we show the trade-off between testability and security by changing the composition of scan path. We insert various scan path patterns in a hardware implementation of the DES, and evaluate these testability and security. In addition, we propose a countermeasure against the scan based attack, and evaluate the countermeasure from the viewpoints of testability and security. The proposed countermeasure can achieve about 98% of high test coverage with preventing scan based attack.
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