信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究

摘要

LSIのテストにおけるスキャンシフト動作，キャプチャ動作時の消費電力やIR-dropの増加は，解決すべき重要な課題である．スキャンシフト時の消費電力はDFT等の技術で削減可能である場合が多い．キャプチャ時の消費電力削減には，回路の修正，テストデータ量の増加，ATPGの修正を伴わないテストパターン修正手法が有効である．テストパターン修正手法はズ判定とX-fillingから構成される．従来のX判定は，テストパターン中にできるだけ多くのズビットを見つけようとするが，比較的Xビット数の低いテストキューブも存在する．一般的に，各テストキューブに必要とされるズビット数はX-fillingと目的によって異なるものである．本論文では，ユーザが要求したズビット分布に従ってズビットの分布を制御する手法を提案する．実験結果では，提案手法が信号倍速移を削減するようなズビットの分布を求めることができることを示す．%Increase of power dissipation and IR-drop during scan-shifting operation and/or capture operation is still challenging problem for LSI testing. It is known that power dissipation during scan-shifting can be reduced with DFT techniques. As for capture power reduction, post-ATPG test modification is the preferable solution since it does not cause circuit modification, test data inflation and post-ATPG modification consists of X-identification and X-filling. Although the existing X-identification identifies a plenty number of X-bits, some test cubes have a relatively small number of X-bits. Usually a desirable number of X-bits for each test cube must be different depending on X-filling and its purposes. In this paper we propose a new X-identification to control the X-bit distribution according to a given required distribution. Experimental results demonstrate the proposed method to optimize the percentage of X-bits to reduce switching activity.