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有機シランを用いたプラズマCVD法によるダイヤモンドライクカーボン薄膜の膜特性評価

机译:使用有机硅烷的等离子CVD方法表征类金刚石碳薄膜

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摘要

ダイヤモンドライクカーボン(DLC)の膜特性改善のために、Si源にモノメチルシラン(MMS)を用いた高周波プラズマ化学気相成長法によりSi添加DLC(Si-DLC)膜を作製し、希釈ガスの種類や基板バイアスの方法について詳細な検討を行った。原料ガスとしてCH_4及びMMS、希釈ガスとしてAr又はH_2を使用し、基板には直流又はパルスバイアスを印加した。同じMMS/(MMS+CH_4)流量比では直流バイアスに比べてパルスバイアスの方が膜中のSi組成[Si/(Si+C)]が大きくなることがわかった。膜中へのSiの添加によって内部応力および摩擦係数が減少するが、パルスバイアスまたは希釈ガスにH_2を用いることで、成膜中での微粒子の発生が抑制され摩擦係数が更に減少することがわかった。%To further improve the properties of diamond-like carbon (DLC) films, we have deposited Si-incorporated DLC (Si-DLC) films by radio-frequency plasma-enhanced chemical vapor deposition using monomethylsilane (MMS) as a Si source, and investigated in detail the effects of dilution gas and substrate bias on the film properties. CH_4 and MMS gases were used to deposit Si-DLC films, and they were diluted with Ar or H_2 during deposition. A DC bias or a pulse bias applied to the substrate was used to increase the incident ion energy. The Si-DLC films deposited using the pulse bias were found to have a higher Si atomic fraction ratio [Si/(Si+C)] than the films deposited using the DC bias at identical MMS/(MMS+CH_4) ratio. The internal stress and friction coefficient decreased by the addition of Si into the films. It was found that the use of the pulse bias and/or H_2 dilution gas was effective in suppressing the formation of particles and further decreasing the friction coefficient.
机译:为了改善类金刚石碳(DLC)膜的特性,通过使用单甲基硅烷(MMS)作为硅源和稀释气体类型的高频等离子体化学气相沉积法制备了添加硅的DLC(Si-DLC)膜。对衬底偏置的方法进行了详细的研究。 CH_4和MMS用作原料气,Ar或H_2用作稀释气,并将DC或脉冲偏压施加到基板上。在相同的MMS /(MMS + CH_4)流量比下,发现脉冲偏压在薄膜中的Si成分[Si /(Si + C)]比DC偏压大。尽管向膜中添加Si降低了内应力和摩擦系数,但是发现使用H_2作为脉冲偏压或稀释气体抑制了膜形成期间细颗粒的产生,并且进一步减小了摩擦系数。它是%为了进一步改善类金刚石碳(DLC)膜的性能,我们已经使用单甲基硅烷(MMS)作为硅源通过射频等离子体增强化学气相沉积法沉积了含硅的DLC(Si-DLC)膜,并且详细研究了稀释气体和衬底偏压对薄膜性能的影响.CH_4和MMS气体用于沉积Si-DLC薄膜,并在沉积过程中用Ar或H_2进行稀释。在相同的MMS下,发现使用脉冲偏压沉积的Si-DLC膜比使用DC偏压沉积的Si具有更高的Si原子分数比[Si /(Si + C)]。 /(MMS + CH_4)比。通过在膜中添加Si可以降低内部应力和摩擦系数。发现使用脉冲偏压和/或H_2稀释气体可有效抑制颗粒的形成并进一步降低摩擦系数。

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