机译:CdTe X射线图像传感器的侧表面处理研究
Dept. of EECS, Korea Advanced Institute of Science and Technology, 335 Gwahangno, Yuseong-gu, Daejeon 305-701, Korea;
i3system Company, 60-3 Jang-dong Yuseong-gu, Daejeon 305-343, Korea;
Dept. of EECS, Korea Advanced Institute of Science and Technology, 335 Gwahangno, Yuseong-gu, Daejeon 305-701, Korea;
Dept. of EECS, Korea Advanced Institute of Science and Technology, 335 Gwahangno, Yuseong-gu, Daejeon 305-701, Korea,National Nanofab Center, 335 Gwahangno, Yuseong-gu, Daejeon, 305-701, Korea;
CdTe; X-ray; medical imaging sensor; lateral surface; surface treatment;
机译:CdTe X射线图像传感器的侧表面处理研究
机译:CdTe X射线图像传感器的侧表面处理研究
机译:CdTe X射线图像传感器的侧表面处理研究
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机译:同步加速器X射线光谱和电子显微镜对冷轧及增材制造的Zr防腐表面处理机理的研究
机译:X射线金表面的光电子能谱分析紫外/臭氧疗法巯基化的DNa低聚物的去除后
机译:CdTe / MnTe / CdTe(001)异质界面的X射线驻波研究
机译:不同表面预处理对CdTe表面的X射线光电子和俄歇电子能谱研究:光电化学和电容势能与表面化学成分的相关性