電気接点で発生する相互変調ひずみの非接触測定

摘要

マイクロ波のような高周波帯では，受動回路で発生する相互変調ひずみが問題となる．受動回路が持つ非線形性はあらゆるものがその原因となるが，その中で最も扱いづらいものが電気接点である．本発表ではマイクロ波帯における電気接点の非線形特性評価に向けた我々の取り組みと現状および課題について報告をする．%Passive intermodulation (PIM) is known as a serious problem in passive circuits. In this report, a measurement method of passive intermodulation caused by an electrical contact are presented in this paper.