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デバイスシミュレーターを用いた有機半導体中の電気伝導式の導出

机译:使用设备模拟器推导有机半导体中的导电方程

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摘要

The th eoretical eq uations fo r I-V ch aracteristics in an o rganic sem iconductor was de rived ace ording t o t he internal carrier emission equation based on a diffusion model at Schottky barrier contact and the mobility equation based on the Pool-Frenkel model. The validity of this equation was confirmed by comparing with the results from the device simulation where the same models and parameters were employed. When the barrier height is high enough, the electric field get to be constant because of no space-charge effect, but the field distribution has to be considered in case of low barrier height. There is, however, no zero-field region even in case of e xtremely low barrier height, which suggests the difference from the ordinal space-charge limited current.%有機半導体中の電流一電圧特性に関わる理論式をショットキー障壁接合での拡散モデルに基づく電荷注入式とプール・フレンケル移動度モデルにもとづく移動度式から導き出し,その計算結果を同じモデルとパラメーターを用いたデバイスシミュレーションの結果と比較し,この理論式の妥当性を検討した.注入障壁が高い場合は空間電荷による影響が少なく電界一定としてよいが,障壁が低くなると空間電荷による電界分布を考慮しなければならない.しかし,非常に低い障壁高さにおいても電界がゼロとなる領域はなく,一般的な空間電荷制限電流ではないことがわかった.
机译:根据肖特基势垒接触处的扩散模型和基于Pool-Frenkel模型的迁移率方程,推导了有机半导体中IV物理特性的理论方程,得出了内部载流子发射方程。通过与使用相同模型和参数的器件仿真结果进行比较,可以确定该方程的公式。当势垒高度足够高时,由于没有空间电荷效应,电场会变得恒定,但电场分布却是恒定的。在低势垒高度的情况下可以考虑使用Has,但是即使在极低的势垒高度的情况下也没有零场区域,这表明与常规的空间电荷限制电流有所不同。基于肖特基势垒结中的扩散模型的电荷注入公式和基于Pool-Frenkel迁移率模型的迁移率公式,根据电荷注入公式推导与一电压特性相关的理论公式,并使用相同的模型和参数为器件仿真计算计算结果。通过与结果进行比较,检验了该理论公式的有效性。当注入势垒较高时,空间电荷的影响较小,并且电场可能恒定,但是当势垒较低时,必须考虑由于空间电荷引起的电场分布。然而,发现即使在非常低的势垒高度处也没有电场变为零的区域,这不是一般的空间电荷限制电流。

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