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超高速光デバイスの応答特性検証のための時間一周波数プロファイル計測技術

机译:时频轮廓测量技术,用于验证超快光学器件的响应特性

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摘要

In this paper, we review and report the optical spectrogram scope (OSS) as a powerful measurement instrument for response characteristic test of ultra-fast all-optical devices and sub-systems in photonic networks. We apply OSS to optical signals passing through some optical devices and visualize its time-frequency status in a birdpsilas-eye view to demonstrate its usefulness for response characteristics test of ultra-fast optical devices including passive devices.%情報通信,物性計測をはじめとした超短光パルスの応用が進み,その更なる短パルス化(広帯域化)が求められるにつれて,分散マネージメントをはじめ用いられる光デバイスの時間応答の波長依存性の把握が非常に重要となってくる.本稿では,今後,超短光パルスのプロファイリングをする各種計測・測定技術の中でも,超短光パルスの時間的な短縮化とともにさらに重要となってくると考えられる時間一周波数分布計測技術の有望なアプローチとして,箸者らが提案している光スペクトログラムスコープの手法を用いた超高速光デバイスの応答特性検証のための時間一周波数プロファイル計測について報告する.
机译:在本文中,我们回顾并报告了光学光谱图示波器(OSS),它是用于光子网络中超快全光学设备和子系统的响应特性测试的强大测量仪器。我们将OSS应用于通过某些光学系统的光信号器件并在鸟瞰图中可视化其时频状态,以证明其可用于测试包括无源器件在内的超快光学器件的响应特性。%超短光脉冲的应用(例如信息通信和物理性能测量)正在不断发展。随着脉冲数变短(宽带),了解光学设备时间响应的波长依赖性(例如色散管理)变得非常重要。在本文中,在各种用于测量超短光脉冲的测量技术中,时频分布测量技术随着超短光脉冲的时间缩短变得越来越有希望而变得越来越重要。作为一种方法,我们报告了时频分布测量,以使用Chopsticks等人提出的光谱图范围方法来验证超快光学设备的响应特性。

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