Reflection and Transmission of a TE Plane Wave from a Two-dimensional Random Thin Film: Anisotropic fluctuation

摘要

This report studies reflection and transmission of a TE plane wave from a 2D random thin film with statistically anisotropic fluctuation by means of the stochastic functional approach. By starting with a representation of the random wavefield presented in the previous paper [IEICE Trans. Electron., Vol. E92-C, 2009], a solution algorithm of the multiple renormalized mass operator is newly presented. The multiple renormalized mass operator, the first-order incoherent scattering cross section and the optical theorem are numerically calculated. The relation between statistical properties and anisotropic fluctuation is discussed.%この報告では、確率汎関数法を用いて統計的に非等方なゆらぎを持つ薄膜からのTE平面波の反射と透過を議論してrnいる。以前の論文PEICE Trans.Electron.，Vol．E92-C，2009］で示されたTE平面泣入射に対する二次元的な誘電率のゆらぎを持つ薄膜によるランダム波動楊のウイーナ・伊藤展開表現から始める。非等方なスペクトル密度をもつゆらぎについて多重線り込みマスオベレータを求める計算アルゴリズムの提案している。多重線り込みマスオベレータ、1次インコヒーレント散乱断面積お光学定理を数値計算し統計的性質とゆらぎの非等方性の影響を議論している。