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【24h】

マスク描画用高輝度高エミッタンス電子銃の開発

机译:高亮度高发射率电子枪掩膜版的研制

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摘要

With the development of semiconductor technology, more sophisticated microfabrication technique is being required in each process of mask design, mask lithography and mask inspection. High brightness and high emittance electron gun has been strongly demanded in electron beam lithography. In an electron beam lithography equipment, high electron beam current density is required to irradiate the small area of a specimen, and the performance is determined by the brightness and emittance of the electron gun. From both perspectives of simulation and experiments, we examine the development of high brightness, high emittance and long-lived electron gun.%これまで、我々は、次世代の電子線露光装置用の電子銃の設計および開発を行ってきている。電子線露光装置では、高い電流密度の電子ビームが、試料の微小な領域を照射するために必要となる。その電子銃の性能は、輝度およびエミッタンスに拠る。電子ビームに収差が含まれていると、見かけ上のエミッタンスは増えるが、輝度は低下する。そのため、エミッタンスは、電子ビームのクロスオーバでの、収差の影響を無視できる領域の半径と発散角(半角)の積とした。本研究では、長寿命で、かつ、高輝度で高エミッタンスな電子銃の可能性をシミュレーションから探り、実際に設計および製作することを目的とする。今回は、境界電荷法の電子軌道計算より、最適な電子銃の電極形状について調べた。
机译:随着半导体技术的发展,在掩模设计,掩模光刻和掩模检查的每个过程中都需要更先进的微细加工技术。在电子束光刻中强烈要求高亮度和高发射率的电子枪。需要高电子束电流密度来照射样品的小面积,并且性能取决于电子枪的亮度和发射率。从模拟和实验的两个角度,我们研究了高亮度,高发射率和高发射率的发展。到目前为止,我们一直在设计和开发用于下一代电子束曝光设备的电子枪。在电子束曝光装置中,需要高电流密度的电子束以照射样品上的微小区域。电子枪的性能取决于亮度和发射率。如果电子束包含像差,则表观发射率增加,但是亮度降低。因此,发射率是可以忽略电子束交叉处的像差的影响的区域的半径和发散角(半角)的乘积。本研究的目的是通过仿真探索长寿命,高亮度,高发射率电子枪的可能性,并进行实际设计和制造。这次,我们通过计算边界电荷法的电子轨迹来研究电子枪的最佳电极形状。

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