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部分再構成によるソフトコアプロセッサの故障回復手法

机译:部分重配置的软核处理器故障恢复方法

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摘要

SRAM型FPGA(Field Programmable Gate Array)は,再構成可能という特徴をもつ反面,ソフトエラーの影響により誤動作を引き起こすおそれがある.本論文では,TMR(Triple Modular Redundancy)と部分再構成を用いたソフトコアプロセッサの故障緩和・回復手法を検討した.特に,順序回路の部分再構成では内部状態が初期化されるため,冗長回路と内部状態を一致させることを目的として内部状態同期手法の提案を行った.また,ローカルメモリの高信頼化として,ECC(Error Correcting Code)の実装を行った.その結果,ベースシステムと比較して4.315倍の回路規模となったが,6μsで故障状態からの復旧を可能とした.%This paper presents a technique for ensuring reliable softcore processor implemented on SRAM-based Field Programmable Gate Arrays (FPGAs). Although FPGA is easy to be attacked by Single Event Upsets (SEUs), it can clear these errors due to its reconfigurability. The circuit failure induced by SEU is able to mitigate and recover using Triple Modular Redundancy and Partial Reconfiguration. However, the reliability of the sequential circuit, such as processor, is not ensured only by these techniques, because the reconfiguration resets the states. We propose the synchronization technique after partial reconfiguration using a interrupt process. Additionally, we implement the Error Correcting Code to local memory to keep its reliability. Proposed system accomplish synchronization process only 6 μs time overhead.
机译:SRAM型FPGA(现场可编程门阵列)具有可重新配置的特性,但是由于软错误的影响,可能会导致故障。在本文中,我们研究了使用TMR(三重模块冗余)和部分重配置的软核处理器的故障缓解和恢复方法。特别地,由于内部状态是在时序电路的部分重新配置中初始化的,因此我们提出了一种内部状态同步方法,以将内部状态与冗余电路进行匹配。我们还实现了ECC(纠错码)以提高本地内存的可靠性。结果,电路规模是基本系统规模的4.315倍,但有可能在6 s内从故障状态中恢复。 %本文提出了一种确保在基于SRAM的现场可编程门阵列(FPGA)上实现的可靠软核处理器的技术,尽管FPGA很容易受到单事件翻转(SEU)的攻击,但由于其可重新配置性,它可以清除这些错误。 SEU引起的电路故障可以使用三重模块冗余和部分重新配置来缓解和恢复,但是,仅通过这些技术并不能确保时序电路(例如处理器)的可靠性,因为重新配置会重置状态。通过使用中断过程进行部分重新配置后,实现同步技术。此外,我们对本地存储器实施了纠错码以保持其可靠性。建议的系统仅需6μs的时间即可完成同步过程。

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