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CoおよびFe-B磁性膜被覆による高分解能磁気力顕微鏡探針の作製

机译:通过涂覆Co和Fe-B磁性膜来制造高分辨率磁力显微镜尖端

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摘要

Magnetic force microscope (MFM) tips are prepared by coating Si tips of 5 and 3 nm radiuses with Co and Fe-B alloy films. The effects of coating film thickness, Si tip radius, and surface undulation of coated material on the MFM resolution are investigated. The MFM resolution is influenced by both the tip radius and the MFM signal detection sensitivity. As the coating thickness increases, the sensitivity increases due to the increase in remanent magnetization of coated film material. However, with increasing the coating film thickness, the tip radius increases. A thicker coating film thickness degrades the MFM resolution due to an increase of tip radius, though the sensitivity is enhanced. A resolution of 9.0 nm is obtained with an MFM tip prepared by coating Si tip of 5 nm radius with 18-nm-thick Co film. The resolution improves to 7.8 nm by using a sharper Si tip of 3 nm radius coated with 20 nm thick Co film. The MFM resolution further improves by using an Fe_(82)B_(18) alloy material which effectively decreases the MFM tip radius through realizing a smooth surface with reduced undulations around the top of MFM tip. A resolution of 7.3 nm is obtained with an MFM tip prepared by coating a Si tip of 3 nm radius with 20-nm-thick Fe_(82)B_(18) film. The present research has shown that in order to prepare an MFM tip with high-resolution capability. It is very important to use a sharp base tip with smaller radius, coated of a higher remanent magnetization film with a smoother surface.%先端半径5および3nmのSi探針をCoおよびFe-B合金膜で被覆することにより,磁気力顕微鏡(MFM)探針を作製し,被覆膜厚,被覆前のSi探針半径,および被覆膜の表面起伏がMFM分解能に及ぼす影響について調べた.分解能は探針形状および信号検出感度により影響された.被覆磁性膜厚の増加に伴い,被覆膜の残留磁化値が増大し,MFM信号検出感度が向上した.しかし,MFM探針の先端曲率半径が増大し,MFM分解能の低下を招いた.先端曲率半径5nmのSi探針を用いた場合,Co膜を18nm被覆したMFM探針で9.0nmの分解能が得られた.先端曲率半径が3nmのSi探針を用いた場合,分解能が7.8nmに向上した.また,Coの代わりにFe_(82)B_(18)合金の被覆膜(20nm)を用いることにより,MFM分解能が7.3nmまで改善された.Fe_(82)B_(18)膜は非晶質でSiに対する濡れ性が良いためMFM探針の表面起伏が改善され,滑らかで鋭い先端曲率を持つMFM探針を作製できた.本研究により高分解能なMFM探針の作製では,高い残留磁化値を持ち,かつ先鋭で滑らかな表面を持つ探針の実現が重要であることが示された.
机译:通过用Co和Fe-B合金膜涂覆半径为5和3 nm的Si尖端来制备磁力显微镜(MFM)尖端。研究了涂膜厚度,Si尖端半径和涂层材料的表面起伏对MFM分辨率的影响。 MFM分辨率受尖端半径和MFM信号检测灵敏度的影响。随着涂层厚度的增加,由于涂层膜材料的剩余磁化强度的增加,灵敏度也随之提高。但是,随着涂膜厚度的增加,尖端半径增大。尽管灵敏度提高了,但涂膜厚度越厚,由于尖端半径的增加会降低MFM分辨率。使用MFM尖端可获得9.0 nm的分辨率,该MFM尖端是通过用18 nm厚的Co膜涂覆5 nm半径的Si尖端制备的。通过使用半径为3 nm的较尖锐的Si尖端涂覆20 nm厚的Co膜,可将分辨率提高到7.8 nm。通过使用Fe_(82)B_(18)合金材料进一步提高了MFM分辨率,该材料通过实现光滑的表面并减少了MFM尖端周围的起伏,有效地减小了MFM尖端半径。用MFM尖端获得的7.3 nm分辨率是通过在20 nm厚的Fe_(82)B_(18)膜上涂覆半径为3 nm的Si尖端而制备的。本研究表明,为了制备具有高分辨率能力的MFM烙铁头。使用半径较小的尖锐的基尖,并涂以表面较光滑的高残留磁化膜,非常重要。%先端端面5および3nmのSi探针をCoおよびFe-B合金膜で被覆することにより,磁気力顕微镜(MFM)探针を作制し,被覆膜厚,被覆前のSi探针阵列,および被覆膜の表面起伏がMFM分解能に及ぼす影响について调べた。感度により影响された。被覆磁性膜厚の増加に伴い,被覆膜の残留磁化値が増大し,MFM信号検出感度が向上した。しかし,MFM探针の先端曲率截面が増大し,MFM分解能の低端を招いた。先端曲率截面5nmのSi探针を用いた场合,Co膜を18nm被覆したMFM探针で9.0nmの分解能が得られた。先端曲率截面が3nmのSi探针を用いた。场合,分解能が7.8nmに向上した。また,Coの代わりにFe_(82)B_(18)合金の被覆膜(20nm)を用いることにより,MFM分解能が7.3nmまで改善された.Fe_ (82)B_(18)膜は非晶质でSiに対する濡れ性が良いためMFM探针の表面起伏が改善され,滑らかで鋭い先端曲率を持つMFM探针を作制できた。なMFM探针の作制では,高い残留磁化値を持ち,かつ先鋭で滑らかな表面を持つ探针の実现が重要であることが示された。

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