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意図的な電磁妨害による暗号モジュールへの故障注入に関する検討

机译:有意电磁干扰导致的故障注入密码模块的研究

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摘要

In this paper, we introduce a new type of intentional electromagnetic interference (IEMI) which causes information leakage in electrical devices without disrupting their operation or damaging their physical structure. We demonstrate fault injection attacks based on the above IEMI through experiments using an Advanced Encryption Standard (AES) module implemented on a standard evaluation board (SASEBO). The experimental results indicate that generating effective faults is feasible and, therefore, such IEMI presents a tangible threat to many existing electrical devices and systems that use cryptographic modules for secure communication and transactions.%本稿では,正弦波を用いたモジュール遠方からの非侵襲なフォールト注入法を報告し,実験により得られた誤りを含む暗号文を用いてDFAが可能であることを示した.提案手法は,フォールトを注入する位置から注入対象までの伝達関数を考慮することで効率よく正弦波を注入することができる.本稿の実験では,インジェクションプローブを用いて電源線を通じて正弦波の注入を行ったが,他の注入方法も考えられる.
机译:在本文中,我们介绍了一种新型的故意电磁干扰(IEMI),该电磁干扰会导致电气设备中的信息泄漏而不破坏其操作或损坏其物理结构。通过使用高级加密标准进行的实验,我们基于上述IEMI演示了故障注入攻击(AES)模块在标准评估板(SASEBO)上实现。实验结果表明,生成有效故障是可行的,因此,这种IEMI会对使用加密模块进行安全通信和交易的许多现有电气设备和系统构成切实威胁在本文中,我们报告了使用正弦波从远距离模块进行的非侵入式故障注入方法,并表明使用包含从实验中获得的错误的密文可以实现DFA。通过考虑从故障注入位置到注入目标的传递函数,所提出的方法可以有效地注入正弦波。在本文的实验中,使用注入探针通过电源线注入了正弦波,但是其他注入方法也是可行的。

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