遷移故障テストパターンに基づいた故障活性化率向上指向ドントケア割当て法

摘要

A single stuck-at fault model and a transition fault model have been widely used to generate test patterns for VLSIs. However, defects which are not detected by test sets for the classical fault models recently increase with the growing density and complexity of VLSIs. In this paper, fault sensitization coverage is defined as the simple measure of test quality for small delay faults and open faults. Defects which frequently occur in VLSIs are modeled as a small delay fault and an open fault whose detection conditions are complex. This paper proposes a don't care filling method to improve fault sensitization coverage for given initial transition fault test sets. This method is possible to generate high quality test sets for small delay faults and open faults without any impact on test data volume. Experimental results show that final test sets generated by the proposed don't care filling method improved SDQL by 17～21% and open fault coverage by 7.1～11.1% compared with given initial transition fault sets.%従来，VLSIのテスト生成には単一縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられていている.しかしながら，近年VLSIの製造プロセスの微細化に伴い，それらを対象としたテストでは検出されない欠陥が增加している.本論文では，近年頻繁に発生する欠陥の中で検出条件が複雑な微小遅延故障モデルとオープン故障モデルに対するテスト品質評価尺度として故障活性化率を定義し，与えられた遷移故障テスト集合に対して故障活性化率が向上するようにドントケア割当てを行う手法を提案する.遷移故障モデルを対象としたテストパターンに対して，故障活性化率が向上するようにドントケア割当てを行うことで，テストパターン数を增加させることなく高品質なテスト集合を生成することが可能である.ISCAS'89ベンチマーク回路に対して，初期テスト集合として与えられた遷移故障テスト集合と比較して，提案するドントケア割当て法によって生成されたテスト集合はSDQL値を17～21%，オープン故障検出率を7.1～11.1%改善できることを示す.