[招待講演]組込み自己テストによるフィールド高信頼化について

摘要

出荷後のシステムにおいて，パワーオン時間等の空き時間を利用したオンラインテストにより回路の遅延を測定することで，回路の遅延マージンや劣化を検知できる.こうしたテストで，劣化に起因する故障を予知 できるため，システムに突然発生する障害を予防でき，システムの高信頼化が可能になる.本講演では，フィールド高信頼化のための組込み自己テストに関連して，生産テストとフィールドテストの違いを述べ，JST CRESTのプロジェクトにおいて開発してきた，DARTと名付けられたフィールド高信頼化のためのテスト技術を紹介する.%On-line test based on delay measurement at power-on/off time or at system idle time of a system allows us to detect delay degradation of logic circuits and confirm their marginality. Such a test can predict a circuit failure caused by circuit aging. Therefore it is useful to avoid sudden system down, and we can make the system to be reliable. In this talk we discuss on the required features that differentiate field test from traditional manufacturing test, with respect to BIST (built-in self test) for high field reliability, and then introduce test technology DART that we recently developed in a JST CREST project.