ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究

摘要

X-filling is often utilized so as to achieve test compression, test power reduction, or test quality improvement etc. in addition to fault detection. If X-filling cannot achieve sufficient results, we have to go back to the DFT and generate test vectors again. In this paper, we present a method to predict effectiveness of X-filling by estimating the number of don't-care (X) bits identified in test vectors. As the results, repeating the DFT and ATPG can be avoided due to insufficient results of X-filling.%テストパターンの故障検出能力に加えて，テストデータ量削減，低消費電力，テスト品質向上などの新しい特性を与える場合，テストパターン中のドントケアビットに論理値を割り当てるぶ割当手法が使用される.しかし，ぶ割当の効果が低い場合，テスト容易化設計やテストパターン生成をやり直す必要がある.本研究では，テストパターン生成前にドントケアビット数を見積もることで，ぶ割当の効果を予測し，テスト容易化設計などのやり直しを回避する.