This paper investigates a mechanism of faulty outputs from cryptographic modules due to intentional electromagnetic interference (IEMI) which causes information leakage in electric devices without disrupting their functions or damaging their components. We show the mechanism of fault occurrence through experiments using the faulty ciphertexts and the pulse injection to the specific round. The experimental results indicate that faulty outputs from cryptographic modules are caused by setup-time violation to the cryptographic module.%本稿では，モジュール遠方からの正弦波を用いた非侵襲なフォールト攻撃により発生する誤り暗文の発生メカニズムを明らかにするために，暗号モジュール内部の処理と同期をとり，AESの最終ラウンドにパルス波を印加し，さらに，同一ラウンド内に印加するパルス波のタイミングを変化させることで，出力される誤り暗文の変化を観測した.実験の結果より，フォールトの出力は，印可したパルス波がクロックに重畳するタイミングと，平文により決定される各パスにおける処理時間により決定されると考えられる.また，こうした意図的な電磁妨害によってフォールトを引き起こす攻撃に対して，回路レベルで正規のクロックタイミングを乱すグリッジ信号を検出し，誤り暗文が出力されることを抑止することで対策出来る可能性を示唆した.
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