机译:用于NMR检测线圈原型的HTS薄膜的微波表征
山形大学 大学院理工学研究科 〒992-8510 山形県米沢巿城南 4-3-16;
山形大学 大学院理工学研究科 〒992-8510 山形県米沢巿城南 4-3-16;
山形大学 大学院理工学研究科 〒992-8510 山形県米沢巿城南 4-3-16;
山形大学 大学院理工学研究科 〒992-8510 山形県米沢巿城南 4-3-16;
山形大学 大学院理工学研究科 〒992-8510 山形県米沢巿城南 4-3-16;
山形大学 大学院理工学研究科 〒992-8510 山形県米沢巿城南 4-3-16;
山形大学 大学院理工学研究科 〒992-8510 山形県米沢巿城南 4-3-16;
山形大学 大学院理工学研究科 〒992-8510 山形県米沢巿城南 4-3-16;
表面抵抗; 誘電体共振器法; 高温超伝導体薄膜; NMR検出コイル;
机译:用于NMR检测线圈原型的HTS薄膜的微波表征
机译:NMR检测线圈试制用HTS薄膜的微波特性评估
机译:NMR检测线圈试制用HTS薄膜的微波特性评估
机译:使用有机EO聚合物试验制造和评估尺赫兹波微检测探针的评价体系
机译:查看有关微隧道单元制造,评估和应用的研究使用情况统计信息
机译:微波等离子体CVD法制备纳米碳薄膜及其场发射特性评估