冗長化FF置き換え方式による高信頼性VLSI設計の自動化

摘要

ディープサブミクロン領域での素子特性のばらつきや、経年劣化、ソフトエラーによるタイミングエラー対策としてカナリアFFを用いた高信頼性VLSI設計手法の提案を行った。カナリアFFで置き換えるフリップ・フロツプの位置の限定手法と配置配線後のチップ面積および消費電力に与える影響について評価を行った。%Design automation of highly reliable VLSI using canary FF is proposed. Canary FF is used to detect timing error caused from parameter variations in deep sub-micron domain, aging deterioration and soft errors. Chip area and power overhead by canary FF is investigated by selectively replacing DFF to canary FF using proposed algorithm.