机译:使用纳米CMOS器件的伪自旋MOSFET的设计与性能
東京工業大学像情報工学研究所 〒226-8502 神奈川県横浜市緑区長津田町 4259,科学技術振興機構 CREST 〒332-0012 埼玉県川口市本町4-1-8 川口センタービル,神奈川科学アカデミー 〒213-0012 神奈川県川崎市高津区坂戸 3-2-1KSP内;
東京工業大学大学院総合理工学研究科 〒226-8502 神奈川県横浜市緑区長津田町4259,科学技術振興機構 CREST 〒332-0012 埼玉県川口市本町4-1-8 川口センタービル;
物質•材料研究機構 〒305-0047 茨城県つくば巿千現1-2-1,科学技術振興機構 CREST 〒332-0012 埼玉県川口市本町4-1-8 川口センタービル;
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東京大学大学院工学系研究科 〒113-8656 東京都文京区本鄉 7-3-1,科学技術振興機構 CREST 〒332-0012 埼玉県川口市本町4-1-8 川口センタービル;
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擬似スピンMOSFET; スピントランジスタ; CMOS/スピントロニタス融合技術; パワーゲーティング; 不揮 発性SRAM; 不揮発性フリップフロップ;
机译:使用纳米CMOS器件的伪自旋MOSFET的设计和性能
机译:纳米CMOS器件的伪自旋MOSFET的设计与性能
机译:使用伪自旋MOSFET分析非易失性SRAM的静态噪声容限和能量性能
机译:使用硅纳米线完全最佳设计及其对转轮微TEG模块的性能
机译:下个月将提供使用尖峰神经网络的关联存储模块和数字计算机之间的接口使用情况统计信息。
机译:使用集成电路设计环境的CMOS-MEMS器件集成设计技术研究及其加速度计应用