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机译:减少集成电路寿命测试中的成本差异
机译:降低芯片测试成本:设计用于可测试性的VLSI电路是降低确保高芯片可靠性的相对成本的最有效方法
机译:投资HIC以获得丰厚回报无论是要节省空间和重量,减少泄漏,提高可靠性,简化故障排除工作,还是只是降低成本,液压集成电路都值得在时间和人才上进行投资
机译:用于射频集成电路的低成本MIMO测试
机译:系统LSI测试解决方案中用于模拟电路的内置自测(BOOST),可降低测试成本
机译:通过改进多型测试和内置自检,降低集成电路测试成本
机译:用于单片三维集成电路应用的低成本和低温多晶硅纳米线传感器阵列的制造
机译:加速寿命测试后表征纳米集成电路的电磁兼容性漂移
机译:超高速集成电路的寿命周期成本模型。