机译:电源开关的电源循环测试:文献调查
Department of Electrical Engineering and Computer Science, The University of Tennessee, Knoxville, TN, USA;
Insulated gate bipolar transistors; Inverters; Logic gates; Temperature measurement; Temperature sensors; Testing; Threshold voltage; Failure mechanisms; lifetime estimation; physics of failure; power cycling; precursor indicators; semiconductor reliability;
机译:智能电源开关的灵活的活动周期压力测试
机译:通过功率循环测试和热循环测试的有限元分析评估半导体功率器件的疲劳寿命
机译:功率循环测试条件和测试策略对电力电子系统中功率模块寿命估算的影响
机译:根据AEC Q100-012标准,循环应力测试设备进行自动化短路测试智能电源开关
机译:设计,建造和实施用于研究砷化镓和碳化硅光触发开关的高压脉冲功率测试台。
机译:临界功率测试与循环中的20分钟功能阈值功率试验的关系
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