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Performance of a new Schottky CdTe detector for hard X-ray spectroscopy

机译:新型用于硬X射线光谱的肖特基CdTe检测器的性能

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摘要

We report a significant improvement of spectral properties of a cadmium telluride (CdTe) detector. This was accomplished via the use of a high quality CdTe crystal, where high Schottky barrier for the holes on a CdTe surface was formed by using a low work-function metal, indium. With a 2/spl times/2 mm/sup 2/ detector at a thickness of 0.5 mm: the leakage current is measured to be 0.7 nA at room temperature (20/spl deg/C) and below 1 pA at -70/spl deg/C for 400 V bias voltage. The low leakage current allows us to operate the detector at a higher bias voltage than for previous CdTe detectors. The energy resolution we achieved at room temperature is 1.1-2.5 keV FWHM from the energy range of 2 keV to 150 keV at 20/spl deg/C without any charge-loss correction electronics. At -70/spl deg/C, we obtained an energy resolution of 1.0 keV FWHM at 122 keV and 2.1 keV FWHM at 662 keV.
机译:我们报告了碲化镉(CdTe)检测器的光谱特性的显着改善。这是通过使用高质量的CdTe晶体实现的,其中通过使用低功函数金属铟在CdTe表面形成高肖特基势垒。使用厚度为0.5 mm的2 / spl次/ 2 mm / sup 2 /检测器:在室温(20 / spl deg / C)下测得的泄漏电流为0.7 nA,在-70 / spl下测得的泄漏电流为1 pA ℃/ 400 V偏置电压。低泄漏电流使我们能够以比以前的CdTe探测器更高的偏置电压运行探测器。在20 / spl deg / C的条件下,我们在室温下实现的能量分辨率为2 keV至150 keV的能量范围为1.1-2.5 keV FWHM,无需任何电荷损耗校正电子设备。在-70 / spl deg / C下,我们在122 keV时获得1.0 keV FWHM的能量分辨率,在662 keV时获得2.1 keV FWHM的能量分辨率。

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