机译:采用40nm大块CMOS技术的单事件容限触发器设计
Department of Electrical Engineering, Computer Science at Vanderbilt University, Nashville, Tennessee, USA;
Charge sharing; flip-flops; radiation-hardened-by-design; redundancy-based radiation-hardened-by-design (RHBD); single event; soft error rate (SER);
机译:使用紧凑建模的40nm批量CMOS触发器的电路级布局感知单事件敏感区域分析
机译:16纳米大容量FinFET CMOS工艺中基于感测放大器的触发器设计的单事件性能
机译:单事件电荷收集和40nm双阱和三阱批量CMOS SRAM的失电
机译:亚微米批量CMOS技术的成角度触发器单事件横截面
机译:批量CMOS中未硬化和硬化触发器的单事件翻转技术缩放趋势
机译:使用MRAM-CMOS非易失性触发器的细粒度电源门控
机译:40〜260 GHz频率倍增40-NM CMOS技术的设计
机译:批量CmOs VLsI技术研究。第1部分:可扩展CmOs设计规则。第2部分pLa(可编程逻辑阵列)设计的CmOs方法