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机译:存在单事件翻转时,基于FPGA的自适应均衡器的可靠性提高
Universidad Antonio de Nebrija, Madrid, Spain;
机译:单事件出现时碳纳米管FET SRAM的故障和可靠性分析科学出版物
机译:单个事件存在下碳纳米管FET SRAM的故障和可靠性分析
机译:使用故障注入和RTL仿真,针对单个事件发生的低RISC内部模块的可靠性表征和活动分析
机译:用于可重构FPGA的自适应单事件效应缓解的单一事件镦粗传感器的裁判实现
机译:静态随机存取存储器中多个细胞不适的模式识别:实验测试结果与单事件不适机制的相关性。
机译:缓解癫痫神经刺激器的位翻转或单事件不适
机译:单事件对基于FpGa的数字滤波器的噪声影响