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机译:NBTI诱导的脉宽调制对SET脉宽测量的影响
Dept. of Inf. Syst. Eng., Osaka Univ., Suita, Japan|c|;
Negative bias temperature instability; pulse-broadening; pulse-shrinking; pulse-width measurement; pulse-width modulation; single-event-transient;
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机译:过调制区域中两级空间矢量脉宽调制与基于载波的脉宽调制之间的关系
机译:SET脉宽测量消除了脉宽调制和管芯内工艺变化的影响
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