机译:使用B-H弯针弯曲法的高精度磁致伸缩测量
机译:从开环测量确定谐振传感器的闭环精度的方法
机译:用于磁阻纳米触点的镍结构中磁致伸缩的高精度测量
机译:磁场退火下的Metglas * 2605合金在应力下通过直流M-H回路测量的磁致伸缩和磁各向异性
机译:磁致伸缩测量的高精度B-H Looper弯曲方法
机译:软磁材料Metglas 2605S-3A的高频,高温铁损和B-H回路特性模型
机译:使用应变片法在低温下的热膨胀和磁致伸缩测量
机译:通过精密3分弯曲方法对电子设备薄膜的杨氏模量测量
机译:温度,频率,磁通密度和激励波形对超级合金铁芯损耗和动态B-H环的影响