机译:研究600 V穿通IGBT中受动态雪崩能力限制的短路故障
avalanche breakdown; insulated gate bipolar transistors; semiconductor device breakdown; semiconductor device reliability; short-circuit currents; 600 V; dynamic-avalanche breakdown; dynamic-avalanche capability; insulated gate bipolar transistors; punchthrough I;
机译:适用于在4kA脉冲电流下运行的4.5kV压装IGBT的具有改善的短路检测和关断能力的栅极单元
机译:场截止IGBT的短路能力研究
机译:大功率IGBT模块基于三维安全工作区的短路故障模式研究与分类
机译:具有短路功能的新型600V沟槽高导性IGBT(Trench HiGT)
机译:非钳位感性负载条件下IGBT关断故障的综合研究
机译:5-羟色胺受体介导豚鼠回肠粘膜维持短路电流反应的研究。
机译:提高短路能力的结构和保护IGBT器件的方法