机译:通过新型负FN操作使用热孔擦除方法提高SONOS型设备的可靠性
机译:栅极感应和通道感应(GSCS)瞬态分析方法的研究第二部分:SONOS型器件的氮化物内行为和可靠性研究
机译:具有金属/ Al2O3 / SiN / Si3N4 / Si结构的SONOS型闪存单元,用于低压高速编程/擦除操作
机译:一种新型的SONOS非易失性闪存器件,使用衬底热空穴注入进行写操作和栅极隧穿以进行擦除
机译:利用热孔擦除技术研究SONOS型设备的电荷损失机理及提高电荷保留率的方法
机译:测量和改善移动设备上最终用户应用程序性能的系统和方法
机译:编程/擦除操作对基于氧化物的电阻式开关存储器性能的影响
机译:SiN组成变化对(FN / FN)操作下SANOS内存性能和可靠性的影响
机译:2005年10月3日至4日,马里兰州盖瑟斯堡评估有源植入式医疗器械可靠性评估的测量方法。