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机译:电瞬态测试下CMOS IC中的瞬态感应锁存
Board-level noise filter; electrical fast transient (EFT); latchup; silicon-controlled rectifier (SCR); transient-induced latchup (TLU);
机译:系统级ESD测试下CMOS Ics中瞬态感应闩锁的物理机制和设备仿真
机译:在系统级ESD测试下评估板级噪声滤波器网络以抑制CMOS IC中的瞬态感应闩锁
机译:瞬态感应锁存电路对CMOS集成电路中功率引脚阻尼频率和阻尼因子的影响
机译:由于电气快速瞬态(EFT)测试,CMOS集成电路中的瞬态引起的闩锁
机译:深度亚微米CMOS技术中的单事件闩锁。
机译:使用基于CMOS的高密度微电极阵列的单细胞电刺激。
机译:基于cmos技术中耦合物理和电气瞬态仿真的单事件闩锁建模
机译:CmOs测试结构中皮秒激光诱导闩锁与高能粒子诱导闩锁的相关性