机译:降低双纠错正交拉丁方码中三重相邻纠错的成本
Microelectronics Center, Harbin Institute of Technology, Harbin, China;
Error Correction Codes; Multiple Cell Upsets (MCUs); Multiple cell upsets (MCUs); Orthogonal Latin Square Codes; SRAM memory; error correction codes; orthogonal Latin square codes;
机译:降低双误差校正正交拉丁平方代码中三倍相邻纠错的成本
机译:从双重错误校正正交拉丁方代码派生的不相等的错误保护代码
机译:单纠错-双相邻错误检测-三相邻错误检测-四相邻错误检测(秒-Taed-Teed Aed)代码的设计
机译:在双纠错正交拉丁方码中实现三重相邻纠错
机译:代数低密度奇偶校验代码:构造,陷印集,随机错误和擦除的校正和变换域方法。
机译:增强的GNSS微分校正最小均方误差估计对空间相关建模误差的敏感性
机译:高效的VLSI实现双误差校正正交拉丁平方代码
机译:多径诱导误差,位置误差的非统计修正,传播异常的修正