...
机译:Symbist:基于对称的模拟和混合信号内置的功能安全性的自检
Sorbonne Univ CNRS LIP6 F-75252 Paris France;
Sorbonne Univ CNRS LIP6 F-75252 Paris France;
STMicroelectronics F-38920 Crolles France;
STMicroelectronics Greater Noida 201308 India;
Sorbonne Univ CNRS LIP6 F-75252 Paris France;
Built-in self-test; Integrated circuit modeling; Standards; Monitoring; Analog-digital conversion; Windows; Transient analysis; Analog and mixed-signal integrated circuit testing; built-in self-test; design-for-test; defect-oriented test; defect simulation; on-line test; concurrent error detection;
机译:基于重配置的模拟和混合信号IC内置自测电路
机译:片内模拟信号生成,用于混合信号内置自检
机译:演示模拟IC功能维护策略,包括直接校准,内置自检和冗余功能块换向
机译:基于重构的内置式自测模拟和混合信号IC的结构解决方案
机译:内置的自测解决方案,用于高频和低频模拟/混合信号电路。
机译:具有数字内置自检功能的MEMS加速度计的ΣΔ闭环接口
机译:Symbist:基于对称的模拟和混合信号内置的功能安全性的自检