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机译:千兆ULSI器件工艺的300 mm Si晶圆性能评估
300-mm silicon crystal; Flatness; Palticle; COP Contamination; TDDB; GOI; Cost;
机译:低缺陷InGaAs量子阱通过在下一代非平面器件的Si(100)300 mm晶圆上进行金属有机化学气相沉积而选择性地生长
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机译:300mm晶圆载具性能评估方法
机译:介绍使用CMOS工艺在300毫米SOI晶圆上用于40Gbit / s波分复用收发器的光子器件
机译:使用撇渣器式脱水控制装置对沉积池性能进行实验评估和建模。
机译:关于评估生物材料血液相容性问题的专题讨论会:第二节摘要:血管修复装置中材料的性能
机译:用25件300mm晶片制造工艺装载前开口统一荚(FOUP)门引起的粒子浓度的动态分析
机译:未修改蓝牙通信设备的有效范围和数据吞吐量的性能评估和分析