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Low-voltage bandgap reference with output-regulated current mirror in 90 nm CMOS

机译:具有90 nm CMOS输出调节电流镜的低压带隙基准

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摘要

A low-voltage bandgap reference (BGR) circuit is designed and fabricated in a 90 nm CMOS technology. To mitigate error resulting from the mismatch in temperature dependency of the current in the output current mirror device and that of the BGR core, an output-regulated current mirror is incorporated. Experimental results show that the output voltage is 497.2 mV at 25u000b0;C with a temperature coefficient of 28.3 ppm/u000b0;C between -40u000b0;C and 80u000b0;C. The circuit occupies 0.0337 mm2 and dissipates 276.6 pW with a supply voltage of 1.2 V.
机译:低压带隙基准(BGR)电路是采用90 nm CMOS技术设计和制造的。为了减轻由于输出电流镜器件和BGR内核的电流在温度依赖性方面的不匹配而导致的误差,内置了输出调节的电流镜。实验结果表明,在25u000b0; C时,输出电压为497.2 mV,温度系数为28.3 ppm / u000b0; C在-40u000b0; C和80u000b0; C之间。该电路占地0.0337 mm2,耗散功率为276.6 pW,电源电压为1.2V。

著录项

  • 来源
    《Electronics Letters》 |2010年第14期|P.976-977|共2页
  • 作者

    Lee S.; Lee H.; Woo J.-K.; Kim S.;

  • 作者单位

    Electrical Engineering, Seoul National University, Seoul 151-744, Republic of Korea;

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