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【24h】

Test Probes Evolve To Keep Up With Embedded Designs

机译:测试探针不断发展以跟上嵌入式设计的步伐

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摘要

No matter how packed an embedded System design might be, no matter how dense the board layouts are, and no matter how difficult it is to access signals, one thing is for sure-you're going to have to scope things.Today's oscilloscopes continue to improve in terms of their bandwidth, memory depth, built-in analysis capabilities, and ability to test in multiple domains. But it doesn't matter how capable your scope is if you can't get a probe on the signal you need to see, or if the probe can't use all that bandwidth.
机译:无论嵌入式系统设计有多紧凑,无论电路板布局有多密集,以及访问信号有多么困难,都可以肯定一件事-您将必须对示波器进行范围调整。今天的示波器仍在继续在带宽,内存深度,内置分析功能以及在多个域中进行测试的能力方面进行改进。但是,如果您无法对需要查看的信号进行探查,或者探查不能使用所有带宽,那么示波器的能力就没关系了。

著录项

  • 来源
    《Electronic Design 》 |2012年第8期| p.66-69| 共4页
  • 作者

    DAVID MALINIAK;

  • 作者单位

    EDA/TEST EDITOR;

  • 收录信息 美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

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