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Simple Circuit Provides Latching Fault Protection

机译:简单电路提供锁存故障保护

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摘要

The latch transistors Q1 and Q2 feed base current to each other and discharge the VDD bias through R13. The line input voltage keeps a small amount of current flowing into the latch through the pull-up resistor R2 to keep the transistors active. The latch can thus only be reset by removing the input voltage and waiting for the clamp capacitors to completely discharge.
机译:锁存晶体管Q1和Q2相互提供基极电流,并通过R13释放VDD偏置。线路输入电压使少量电流通过上拉电阻器R2流入锁存器,以使晶体管保持活动状态。因此只能通过移除输入电压并等待钳位电容器完全放电来重置锁存器。

著录项

  • 来源
    《Electronic Design》 |2009年第22期|p.45-46|共2页
  • 作者

    Brian King;

  • 作者单位

    BRIAN KINGTEXAS INSTRUMENTS, DALLAS, TEXASti_brianking@list.ti.comED ONLINE 21943BRIAN KING, applications engineer and a member of the Group Technical Staff, holds a BSEE and MSEE from the University of Arkansas, Fayetteville.;

  • 收录信息 美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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