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机译:具有聚集缺陷的集成电路成品率的统计模型
机译:扩展集成电路良率模型以评估早期寿命可靠性
机译:扩展集成电路成品率模型以评估早期寿命可靠性
机译:一种多保真建模方法,用于对多点损伤的等效初始缺陷尺寸分布进行统计推断
机译:使用高斯混合建模的超声波探伤的无监督机器学习,K-Means聚类和平均移位聚类
机译:二氧化碳的统计建模和时间相关信息的聚类分析:滞后目标时间序列聚类,多因素时间序列聚类和多级时间序列聚类
机译:统计优化以提高益生菌凝结芽孢杆菌及其噬菌体抗性突变体的产量然后对该过程进行动力学建模
机译:多保真建模方法对多站点损伤等效初始缺陷尺寸分布的统计推断