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机译:DRAM中α粒子引起的软错误率的建模
机译:浮沟道型环绕栅晶体管(FC-SGT)DRAM单元中α粒子引起的软错误的数值分析
机译:在半导体存储器中模拟α粒子引起的加速软错误率
机译:GaAs集成电路中α粒子引起的软错误的双极机制
机译:传播由Alpha粒子引起的90nm嵌入式SRAM的软错误率
机译:高密度动态随机存取存储器阵列中由α粒子引起的软错误的分析。
机译:Microsoft Kinect™深度传感器的基于统计分析的错误模型
机译:10T亚阈值sRam中α粒子引起的软错误和多单元置乱的测量与分析