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机译:多时间程序MLC SONOS内存中的保留分配尾部,归因于随机程序电荷引起的电流路径渗透效应
机译:电流路径渗流效应导致SONOS闪存中的保留损耗变化
机译:保留模式下SONOS闪存中的阈值电压滚降机制,包括陷获电荷的重新分配效应
机译:保留模式下SONOS闪存中的阈值电压滚降机制,包括陷获电荷的重新分配效应
机译:使用物理分离的双SONOS结构研究2位SONOS存储设备的横向电荷分布
机译:重尾分布下铂和钯价格收益率序列的长记忆均值和波动率模型
机译:由于随机编程电荷引起的电流路径渗透效应,在多时间程序mLC sONOs存储器中的Vt保持分布尾部