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机译:纳米级SOI和块状Trigate FinFET中工艺引起的可变性的比较仿真分析
Gold Standard Simulation Ltd., Glasgow, U.K.|c|;
Bulk fin field effect transistors (FinFETs); FinFET; Technology Computer-Aided Design (TCAD); process variability; silicon-on-insulator (SOI) FinFETs; statistical variability;
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机译:高温下SOI和块状FinFET之间的固有电压增益和单位增益频率的比较分析
机译:纳米级SOI和块状FinFET中工艺引起的可变性的仿真分析
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机译:体-表面反应-扩散耦合系统的稳定性分析与仿真
机译:SOI和散装鳍片型高温高温的基本电压增益和单位增益频率的比较分析
机译:单一凝集物:凝集玻璃,全粒面,块状土壤和FmR组成的对比研究