机译:交替工作模式下基于硅的阻塞杂质带检测器的优化
Chinese Academy of Sciences Hangzhou Institute for Advanced Study University of Chinese Academy of Sciences Hangzhou China;
State Key Laboratory for Infrared Physics Shanghai Institute of Technical Physics Chinese Academy of Sciences Shanghai China;
Detectors; Impurities; Temperature measurement; Silicon; Current measurement; Anodes; Dark current;
机译:基于Si的阻塞 - 杂质带探测器的制造工艺和光电性能研究
机译:对以太赫兹频率工作的硅基块杂质带探测器的暗电流和光谱响应机制的分析
机译:阻挡层和阳极偏压在基于GaAs的阻挡杂质带检测器的杂质带跃迁和传输过程中的作用
机译:基于SI的阻塞杂质频带Terahertz探测器的光电性能研究进展
机译:锗远红外阻挡杂质带检测器。
机译:用于PET / MRI插入物的相互作用深度编码PET块检测器的优化
机译:基于SI的阻塞 - 杂质带红外检测材料和探测器的研究进展