机译:LSI / VLSI芯片的功能测试
Syracuse University, Department of Electrical and Computer Engineering, Syracuse, USA;
VLSI; integrated circuit testing; large scale integration; LSI/VLSI chips; functional testing;
机译:降低芯片测试成本:设计用于可测试性的VLSI电路是降低确保高芯片可靠性的相对成本的最有效方法
机译:千兆速率五通道GaAs OE-LSI芯片组,用于模块或VLSI之间的高速光互连
机译:消费高速LSI芯片的辐射测试用于下一次太空VLBI任务
机译:数字LSI / VLSI系统的功能测试技术
机译:测试高速VLSI芯片中的信号完整性。
机译:基于统一序列的关联测试可进行功能注释和Metabochip数据中非编码变异的元分析
机译:检测和定位LSI / VLSI芯片的I / O引脚中的桥接和卡住故障的系统技术
机译:LsI / VLsI(超大规模集成)数字系统的功能测试