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【2h】

A systematic technique for detecting and locating bridging and stuck-at faults in I/O pins of LSI/VLSI chips

机译：检测和定位LSI / VLSI芯片的I / O引脚中的桥接和卡住故障的系统技术

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Xu S.; Su S.Y.H.;
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年度 1987
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1. Locating bridging faults using dynamically computed stuck-at fault dictionaries [J] . Yuming Gong, Chakravarty S. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 1998,第9期

机译：使用动态计算的固定故障字典定位桥接故障
2. Universal test set for detecting stuck-at and bridging faults in double fixed-polarity Reed-Muller programmable logic arrays [J] . H. Rahaman, D.K. Das IEE proceedings. Part E, Computers and digital techniques . 2006,第2期

机译：用于检测双固定极性Reed-Muller可编程逻辑阵列中卡住和桥接故障的通用测试仪
3. Boolean Difference Technique for Detecting All Missing Gate and Stuck-at Faults in Reversible Circuits* [J] . Mondal Joyati, Mondal Bappaditya, Kole Dipak Kumar, Journal of circuits, systems and computers . 2019,第12期

机译：布尔差分技术，用于检测可逆电路中的所有缺失门和滞留故障*
4. Detecting Bridging and Stuck-At Faults at Input and Output Pins of Standard Digital Components [C] . Karpovsky M., Su S.Y.H. Wireless Broadband Conference, 2006 . 2006

机译：检测标准数字组件的输入和输出引脚上的桥接和卡死故障
5. Test generation and evaluation for bridging faults in CMOS VLSI circuits. [D] . Lee, Terry Ping-Chung. 1995

机译：测试生成和评估CMOS VLSI电路中的桥接故障。
6. Expression of cyclin D1 and cyclin E in urothelial bladder carcinoma detected in tissue chips using a quantum dot immunofluorescence technique [O] . GUANG SHAN, TIAN TANG -1

机译：量子点免疫荧光技术检测组织芯片中尿路上皮膀胱癌中cyclin D1和cyclin E的表达
7. Using Platform FPGAs for Fault Emulation and Test-set Generation to Detect Stuck-at Faults [O] . Carson Dunbar, Kundan Nepal 2011

机译：使用平台FPGA进行故障仿真和测试集生成以检测卡住的故障
8. Technique for Evaluating the Application of the Pin-Level Stuck-at Fault Model to VLSI (Very Large Scale Integrated) Circuits, [R] . palumbo, d. l. finelli, g. b. 1987

机译：针对超大规模集成电路的超高压集成电路应用引脚级卡住故障模型的评估技术，

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